讲座题目:The Light and Shadow of Semiconductor Circuits
讲 座 人:Xiaoqing Wen 教授 IEEE Fellow 博士生导师
讲座时间:2023年10月16日 星期一 下午14:30 -16:00
讲座地点:求本楼B403
报告人简介:
温晓青,现任日本九州工业大学教授、博士生导师、IEEE Fellow,1986年获中国清华大学学士学位,1990年获日本广岛大学硕士学位,1993年获日本大阪大学博士学位。1993年至1997年,他担任日本秋田大学的助理教授。1995年10月至1996年3月,在美国威斯康辛大学麦迪逊分校做访问研究员。于1998年加入美国SynTest技术公司,并且并担任首席技术官一直到2003年。2004年加入日本九州工业大学成为集成系统研究中心的教授和主任。研究方向包括芯片可测性设计、测试生成及故障诊断等。已发表学术论文170余篇,编著学术专著2本:“VLSI测试原理和架构:可测性设计”,以及“低功耗器件的功率感知测试和测试策略”。拥有关于VLSI的41项美国专利及14项日本专利,并担任IEEE TCAD,IEEE T-VLSI等学术杂志的编委以及众多国际会议的程序委员。